NON DESTRUCTIVE TESTING

超音波探傷装置の機器構成

超音波探傷試験の測定原理

超音波の発生

振動子に電圧を加えると、振動子が厚み方向に伸び縮みし超音波が発生します。

超音波の受信

超音波は媒質の境界面で反射する性質があります。プローブから発生した超音波は物質の境界面で反射し、反射した超音波はプローブで受信され、超音波が発生したときの逆の原理で電圧を発生します。

探傷装置（電圧発生器/パルサー）

電圧発生器（パルサー/探傷装置）

電圧によって伸び縮みする振動子（探触子）に高周波電圧を加える機器です。超音波探傷試験で一般的に使用される超音波は、一定周期で断続的に振動するパルス波を使用するため、パルサーと呼ばれています。一定の周期でパルス信号を送信、その生成するパルスの1秒間あたりのパルス生成数を繰返しパルス周波数（PRF）と言います。

探触子（プローブ）

超音波の発生

振動子に電圧を加えると、振動子が厚み方向に伸び縮みし超音波が発生します。

超音波の受信

超音波は媒質の境界面で反射する性質があります。プローブから発生した超音波は物質の境界面で反射し、反射した超音波はプローブで受信され、超音波が発生したときの逆の原理で電圧を発生します。

探傷装置（レシーバー）

受信増幅部

探触子にて受信した電圧（振幅）を増幅させます。

AD変換部

アナログ信号をデジタル信号へ変換する。アナログ信号からデジタル信号へ変換する時間軸周期の逆数をサンプリング周波数と呼ぶ。

受信フィルター部

デジタル信号に変換された信号から減衰域をデータから除く処理をします。

A/Cスコープ出力部

フィルターにて減衰域を取り除いた信号を出力します。Cスキャンの場合は、エンコーダーと組み合わせて、プローブ位置を取り込んで描画します。